Исследование свойств и структуры поверхности широкого класса материалов: органических, полимерных, полупроводниковых, в настоящее время существенным образом базируется на использовании сканирующей зондовой микроскопии, так как свойства любого материала определены его структурой и внутренними взаимодействиями на молекулярном и атомарном уровнях. Достижения в этой области непосредственно влияют на развития нанотехнологий в целом, так как являются базой для фундаментального понимания атомарной структуры и создания новых материалов с уникальными заданными свойствами. В проекте предлагается использовать сочетание современных теоретических и экспериментальных методов, обеспечивающих с помощью ионно-стимулированного осаждения материалов из газовой фазы методом фокусированных ионных пучков формирование апертурных зондовых датчиков для сканирующей ближнепольной оптической микроскопии. Разработанный метод формирования позволяет сформировать острие зондового датчика с параметрами исполнения, изменяемыми в широком диапазоне значений, для высокоточной нанодиагностики на основе безострийных кантилеверов или кантилеверов с разрушенным после интенсивного использования острием.

Производитель: ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "НАНОПРОБ"

Другое