Программа предназначена для расчета времени потери работоспособности микросхемой при воздействии радиации. Программа работает с созданной базой данных по типам микросхем и моделирующих установок, которую оператор может дополнять. Результаты расчета отображаются в специально созданной базе данных, которая может выводиться по запросу оператора. Расчет проводится с оценкой вероятности произошедшего события. Программа предназначается для специалистов, проектирующих радиационно-стойкие микросхемы.

TechNet