Программа предназначена для расчета деградации параметров микросхем при воздействии статической радиации гамма-излучения с монолинией энергии Со60, характерного для атомных станций. Программа работает с созданной базой данных по материалам технологий СБИС, которую оператор может дополнять. Результаты расчета отображаются в специально созданной базе данных, которая может выводиться по запросу оператора. Расчет проводится с оценкой вероятности произошедшего события. Программа предназначается для специалистов, проектирующих радиационно-стойкие микросхемы.

TechNet