Программа предназначена для расчета тепловых и термомеханических эффектов в корпусах микросхем при воздействии радиации. Программа работает с созданной базой данных по материалам корпусов микросхем, которую оператор может дополнять. Результаты расчета отображаются в специально созданной базе данных, которая может выводиться по запросу оператора. Расчет проводится с оценкой вероятности произошедшего события. Программа предназначается для специалистов, проектирующих радиационно стойкие микросхемы.

TechNet