«Программа для определения начального уровня радиационного эффекта при воздействии радиации на микросхемы»
Программа предназначена для расчета уровня бессбойной работы микросхемы при импульсном радиационном воздействии. Программа работает с созданной базой данных по типам моделирующих установок, которую оператор может дополнять. Результаты расчета отображаются в специально созданной базе данных, которая может выводиться по запросу оператора. Расчет проводится с оценкой вероятности произошедшего события. Программа предназначается для специалистов, проектирующих радиационно стойкие микросхемы.
Ссылка
Рынки
TechNet
